Saltar al contenido
Biblioteca IPCHILE
Nuevos ejemplares
Revisar el Catálogo
Lista Alfabética
Explorar canales
Reservas de Curso
Ir a la portada del Descubridor Biblioteca IP Chile
Descubridor
Biblioteca
Entrar
Lenguaje
Español
English
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Relación microestructura resi...
Text This
Describir:
Relación microestructura resistencia al desgaste de recubrimientos duros ricos en cromo y tungsteno aplicados por soldadura electrica (SMAW)
Número:
Proveedor:
Seleccione su compañía
Cricket
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile