Saltar al contenido
Biblioteca IPCHILE
Nuevos ejemplares
Revisar el Catálogo
Lista Alfabética
Explorar canales
Reservas de Curso
Ir a la portada del Descubridor Biblioteca IP Chile
Descubridor
Biblioteca
Entrar
Lenguaje
Español
English
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Novel Methods Based on Deep Le...
Text This
Describir:
Novel Methods Based on Deep Learning Applied to Condition Monitoring in Smart Manufacturing Processes
Número:
Proveedor:
Seleccione su compañía
Cricket
T Mobile
Verizon
Virgin Mobile