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Cita APA (7a ed.)
Jean-Luc, B., & Bruno, D. (2010). Contamination Monitoring and Analysis in Semiconductor Manufacturing. IntechOpen. https://doi.org/10.5772/8561
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Cita Chicago Style (17a ed.)
Jean-Luc, Baltzinger, y Delahaye Bruno. Contamination Monitoring and Analysis in Semiconductor Manufacturing. IntechOpen, 2010. https://doi.org/10.5772/8561.
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Cita MLA (9a ed.)
Jean-Luc, Baltzinger, y Delahaye Bruno. Contamination Monitoring and Analysis in Semiconductor Manufacturing. IntechOpen, 2010. https://doi.org/10.5772/8561.
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