The formation of structural imperfections in semiconductor silicon /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Talanin, V. I. (Autor), Talanin, I. E. (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Newcastle-upon-Tyne, England : Cambridge Scholars Publishing, 2018.
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/ipchile/120272
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