Digital holography for MEMS and microsystem metrology /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores:	Asundi, Anand
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, N.J. : Wiley, 2011.
Colección:	Wiley microsystem and nanotechnology series.
Materias:	Microelectromechanical systems > Measurement. Microelectronics > Measurement. Holographic testing. Image processing > Digital techniques. Electronic books.
Acceso en línea:	https://elibro.net/ereader/ipchile/182903
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