Swift ion beam analysis in nanosciences /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Jalabert, Denis (Autor)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: London, [England] ; New York : Routledge, 2017.
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/ipchile/184606
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