Scanning probe microscopy for industrial applications : nanomechanical characterization /
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| Otros Autores: | |
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| Formato: | Electrónico eBook |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Hoboken, New Jersey :
Wiley,
2014.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://elibro.net/ereader/ipchile/185257 |
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