Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics /

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Detalles Bibliográficos
Otros Autores: Claverie, A. (Alain)
Formato: Electrónico eBook
Lenguaje:inglés
Publicado: Hoboken, N.J. : John Wiley &Sons, Inc., ; 2013.
London : ISTE, 2013.
Colección:Nanoscience and nanotechnology series
Materias:
Acceso en línea:https://elibro.net/ereader/ipchile/187090
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