Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
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| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis eBook |
| Lenguaje: | español |
| Publicado: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://elibro.net/ereader/ipchile/90796 |
| Etiquetas: |
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