Complex Nature of Charge Trapping and Retention in NC NVM Structures

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nazarov, A., Turchanikov, V.
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2010
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/11918
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