Quality Model based on Object-oriented Metrics and Naive Bayes

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Lee, Sai Peck, Loh, Chuan Ho
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/13279
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Descripción
Sumario:None
ISBN:978-953-307-547-1
DOI:10.5772/14047