Description of Topography of Surfaces and Thin Films with the use Fourier Transformation, Obtained from Non-Standard Optical Measurements

None

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Jaglarz, Janusz
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/14632
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!