Nano-Scale Measurements of Dopants and Electronic Impurities in Individual Silicon Nanowires Using Kelvin Probe Force Microscopy

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Koren, Elad, Allen, Jonathan E., Givan, Uri, Berkovitch, Noel, Hemesath, Eric R., Lauhon, Lincoln J., Rosenwaks, Yossi
Formato:	Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2011
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/16377
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