Near-Field Scanning Optical Microscopy Applied to the Study of Ferroelectric Materials

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Canet-Ferrer, Josep, Martínez-Pastor, Juan P.
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/16598
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