Epitaxial Integration of Ferroelectric BaTiO3 with Semiconductor Si: From a Structure- Property Correlation Point of View

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Qiao, Liang, Bi, Xiaofang
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/18053
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