Structure Characterization of Materials by Association of the Raman Spectra and X-Ray Diffraction Data

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Chagas, Luciano H., Souza, Márcia C. De, Carmo, Weberton R. Do, Abreu, Heitor A. De, Diniz, Renata
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2012
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/29446
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