Spectral Clustering and Its Application in Machine Failure Prognosis

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Li, Weihua, Chen, Yan, Liu, Wen, Lee, Jay
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2012
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/29867
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