XAFS Measurement System in the Soft X-ray Region for Various Sample Conditions and Multipurpose Measurements

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Nakanishi, Koji, Ohta, Toshiaki
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2012
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/31074
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