The Diffusion Model of Grown-In Microdefects Formation During Crystallization of Dislocation-Free Silicon Single Crystals

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Talanin, V. I., Talanin, I. E.
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2012
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/36373
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