Microscopy and Spectroscopy Analysis of Mems Corrosion Used in the Electronics Industry of the Baja California Region, Mexico

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Badilla, Gustavo Lopez, Salas, Benjamin Valdez, Wiener, Michael Schorr, González, Carlos Raúl Navarro
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2012
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/37981
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Descripción
Sumario:None
ISBN:978-953-51-0674-6
DOI:10.5772/45773