The Evolution of Theory on Drain Current Saturation Mechanism of MOSFETs from the Early Days to the Present Day

None

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Yang, Peizhen, Lau, W.S., Lai, Seow Wei, Lo, V.L., Siah, S.Y., Chan, L.
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2010
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/6489
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Descripción
Sumario:None
ISBN:978-953-307-045-2
DOI:10.5772/6873