Implications of Negative Bias Temperature Instability in Power MOS Transistors

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Danković, Danijel, Manić, Ivica, Djorić-Veljković, Snežana, Davidović, Vojkan, Golubović, Snežana, Stojadinović, Ninoslav
Formato:	Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2009
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/6638
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