Computer Simulation of Processes at Electron and Ion Beam Lithography, Part 2: Simulation of Resist Developed Images at Electron and Ion Beam Lithography

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Vutova, Katia, Koleva, Elena, Mladenov, Georgy
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2010
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/8675
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