Radiation Transmission-based Thickness Measurement Systems - Advancements, Innovations and New Technologies

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Zipf, Mark E.
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2010
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/9945
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Descripción
Sumario:None
ISBN:978-953-307-061-2
DOI:10.5772/8728