Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Gray, Kirk (Autor), Paschkewitz, John James (Autor)
Formato:	Electrónico eBook
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ : Wiley, 2016.
Colección:	Wiley series in quality and reliability engineering.
Materias:	Accelerated life testing. Electronic systems > Design and construction. Electronic systems > Testing. Electronic books.
Acceso en línea:	https://elibro.net/ereader/ipchile/188479
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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