Next generation HALT and HASS : robust design of electronics and systems /
Guardado en:
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Formato: | Electrónico eBook |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Chichester, West Sussex, United Kingdom ; Hoboken, NJ :
Wiley,
2016.
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| Colección: | Wiley series in quality and reliability engineering.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://elibro.net/ereader/ipchile/188479 |
| Etiquetas: |
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