Advanced Electron Microscopy Techniques on Semiconductor Nanowires: from Atomic Density of States Analysis to 3D Reconstruction Models

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Conesa-Boj, Sonia, Estrade, Sonia, Rebled, Josep M., Prades, Joan D., Cirera, A., Morante, Joan R., Peiro, Francesca, Arbiol, Jordi
Formato:	Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2010
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/10519
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