Application of Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) to the Characterization of RTILs for Electrochemical Applications

None

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Benavente, J., Rodríguez-Castellón, E.
Formato:	Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2011
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/13745
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet