Importance of Simulation Studies in Analysis of Thin Film Transistors Based on Organic and Metal Oxide Semiconductors

None

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Gupta, Dipti, Nayak, Pradipta K., Yoo, Seunghyup, Lee, Changhee, Hong, Yongtaek
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/20885
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!