DUV Interferometry for Micro and Nanopatterned Surfaces

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Soppera, Olivier, Dirani, Ali, Stehlin, Fabrice, Ridaoui, Hassan, Spangenberg, Arnaud, Wieder, Fernand, Roucoules, Vincent
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2011
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/24501
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