A Practical Application of X-Ray Spectroscopy in Ti-Al-N and Cr-Al-N Thin Films

None

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ipaz, Leonid, Aperador, William, Caicedo, Julio, Esteve, Joan, Zambrano, Gustavo
Formato:	Capítulo de libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	IntechOpen 2012
Materias:	Physical Sciences, Engineering and Technology
Acceso en línea:	https://www.intechopen.com/chapters/27336
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet