Statistical Prediction of Circuit Aging under Process Variations

None

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wang, Wenping, Reddy, Vijay, Balakrishnan, Varsha, Krishnan, Srikanth, Cao, Yu
Formato: Capítulo de libro
Lenguaje:inglés
Publicado: IntechOpen 2010
Materias:
Acceso en línea:https://www.intechopen.com/chapters/6491
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